Système de mesure
Zeiss EVO MA 15 Rasterelektronenmikroskop

EXW Prix fixe hors TVA
80 000 €
Année de construction
2015
État
Occasion
Lieu
Schwäbisch Gmünd Allemagne
Système de mesure Zeiss EVO MA 15 Rasterelektronenmikroskop
Système de mesure Zeiss EVO MA 15 Rasterelektronenmikroskop
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Données sur la machine

Designation de la machine:
Système de mesure
Fabricant:
Zeiss
Modèle:
EVO MA 15 Rasterelektronenmikroskop
Année de construction:
2015
État:
très bon (occasion)
Fonctionnalité:
entièrement fonctionnel

Prix et localisation

EXW Prix fixe hors TVA
80 000 €
Lieu:
Katharinenstraße 13-17, 73525 17, Deutschland Allemagne
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Détails sur l'offre

Identifiant de l'annonce:
A21771196
Dernière mise à jour:
le 22.04.2026

Description

• Appareil d’occasion avec systèmes de cathodes améliorés
Ncodpfx Adey Ep S Ro Ajr
o Cathode LAB6
o Cathode en tungstène
• EDX, spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie, permettant de réaliser des analyses chimiques directement dans le MEB
• BSD 5 canaux monté sur l’objectif
• Caméra infrarouge montée sur la porte de la chambre
• Maintenance assurée par les fabricants Zeiss et Oxford Instr. jusqu’en 2024
• 2 écrans plats 19’’
• Joystick de commande pour le déplacement de la platine
• Console de commande ergonomique
• Module logiciel pour le centrage automatique de n’importe quel détail d’image
• Plaque de base de la platine, avec déplacements sur axes X et Y
• Configuration de la platine avec axes de bascule, rotation, et axe Z, amovible

Accessoires
• Supports de transport et roulettes de déplacement
• 2x Wehnelt + anode + 3 filaments tungstène
• Entretoises de platine (3 tailles différentes) + outils
• 1 porte-échantillons 9 positions pour tiges
o Collimateur court 150
o Collimateur long etc. 150
o Collimateur long 50/80 mm² MK2
• 1 porte-diaphragme fixe
• 2x diaphragme VP 100 μ
• 1x diaphragme VP 750 μ
• 2x diaphragme 20 μ
• 1x diaphragme 30 μ
• 1x diaphragme 100 μ
• Kit d’outils divers et joints d’étanchéité
• 1 BSD 5 canaux monté sur l’objectif (1 EVO BDS DIODE 5 CH Standard, faible luminosité ; avec traces d’usage, éventuellement à remplacer)

AZtec Adv Rec. 3.2 + mise à jour 2024

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