Inconnu Composant

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Année de construction: 2025, État: nouveau, Système d'inspection par rayons X pour emballages et sacs de taille moyenne. Convient à la détection de corps étrangers en métal, verre, pierre, plastique, etc. dans les produits alimentaires ou non alimentaires. - Spécifications : Largeur de la bande transporteuse : 410 mm ; Précision de détection : Pb à partir de Ø 0,2 mm, Fe à partir de Ø 0,28 mm, SUS à partir de Ø 0,28 mm, non métalliques tels que la pierre, le verre, à partir de Ø 1,2 mm ; Puissance des rayons X : 80 kVp, 1,25 mA ; Résolution du détecteur : 0,4 mm ; Émissions de rayons X : < 1usv/h ; Hauteur de la bande transporteuse : 850 ± 30 mm ; Vitesse de la bande transporteuse (selon le produit) : 10 – 100 m/min ; Interface utilisateur : écran tactile 15" ; Logiciel : intellisens®X-ray ; Température de fonctionnement : 5 – 35 °C ; Système d'éjection : disponible en option selon les besoins ; Alimentation : 220 V CA, 50/60 Hz ; Dimensions du système : L 900 x l 920 x H 1 825 mm ; Poids : 350 kg. Guodpfx Acsv Nm Ino Ajk Veuillez noter que nos prix neufs sont souvent inférieurs aux prix d'occasion habituels. Demandez-nous simplement et dites-nous quelle est votre tâche d'emballage. - Il y a généralement 30 à 50 nouvelles machines différentes disponibles immédiatement en stock. De plus, nous avons des délais de livraison très courts d'environ 3 semaines pour les machines fabriquées selon les spécifications du client. - Toutes les machines sont disponibles avec une garantie complète.

État: support de pièces de rechange défectueux (utilisé), Oxford Instruments Analyseur à fluorescence X Oxford Instruments X-Strata 960 – pour pièces détachées / défectueux Description de l’article : À vendre : un analyseur à fluorescence X d’occasion de type Oxford Instruments X-Strata 960. L’appareil provient du démantèlement d’un laboratoire et est proposé exclusivement comme donneur de pièces détachées ou à des fins de réparation. Aucun test de fonctionnement n’a été effectué – l’appareil est donc vendu comme défectueux au sens de la vente. Caractéristiques techniques – Oxford Instruments X-Strata 960 (sans engagement) Caractéristique Description Modèle X-Strata 960 Fabricant Oxford Instruments Méthode d’analyse Analyse par fluorescence X (XRF) Domaines d’utilisation Mesure d’épaisseur de couche, analyse des matériaux, contrôle des métaux précieux Géométrie de mesure Par le haut ou par le bas selon la configuration Source de rayonnement Tube à rayons X (par ex. anode en rhodium), puissance 50–100 W Détecteur Compteur proportionnel ou détecteur à dérive de silicium (SDD), selon version Plage de mesure Épaisseur de couche env. 0,005 – 50 µm (selon matériau) Taille du spot env. 15 μm – 1 mm (selon collimateur) Axe Z Motorisé, hauteur de mesure jusqu’à env. 230 mm Chambre d’analyse (L × P × H) env. 580 × 510 × 230 mm Table d’échantillons Manuelle ou motorisée (200 × 200 mm ou plus, selon la configuration) Système de focalisation Optique / focus laser, partiellement automatique Système d’exploitation PC industriel intégré avec logiciel d’évaluation sous Windows Guedpfx Acshaapfj Aek Alimentation 220–240 V / 50–60 Hz / env. 500–800 W Poids de l’appareil env. 150–200 kg (selon version) État : occasion / défectueux / pour pièces détachées Contenu de la livraison : selon photos – sans accessoires ni logiciel Remarques importantes : Vente expressément en tant qu’appareil défectueux sans garantie de fonctionnement. L’article est destiné à être utilisé comme donneur de pièces ou pour bricoleurs. Aucune garantie sur le fonctionnement, l’intégralité ou les paramètres techniques. Vente professionnelle avec exclusion expresse de toute garantie légale, conformément à l’article § 447 BGB (vente avec expédition). Contenu de la livraison : Oxford Instruments X-Strata 960 Toutes les pièces visibles sur les photos Aucune pièce supplémentaire, accessoire ou documentation n’est inclus, sauf mention contraire. Expédition & enlèvement : Enlèvement possible et privilégié à Borken Expédition possible sur accord. (Sous réserve de modifications ou d’erreurs dans les données et caractéristiques techniques !) Pour toute question complémentaire, nous sommes à votre disposition par téléphone.

Année de construction: 2016, État: très bon (occasion), Inspection automatique par rayons X Pour l'inspection des soudures BGA, QFN, THT, LED, LGA et autres, visibles ou non. Autres fonctionnalités : Gusdpfxewpuado Ac Ask Station hors ligne et station de réparation incluses Système d'exploitation : Windows 7 Détecteurs CCD à balayage linéaire ultra-rapides Zone d'inspection : 450 mm - 400 mm Acquisition d'images : 2D, 2,5D, 3D (images en coupe avec tomodensitométrie planaire) Dimensions du circuit imprimé : 60 - 450 x 50 - 400 mm Résolution AXI : 6 - 30 µm/px AOI : Champ de vision de la caméra : 42 mm x 42 mm Résolution : 21 µm Hauteur d'inspection : -3 à 7,5 mm Optique : télécentrique Hauteur de transport : 950 mm +/- 25 mm Interface : SMEMA Réglage de la largeur : automatique

Année de construction: 2016, État: prêt à l'emploi (d'occasion), Un nouveau système d'inspection à rayons X Anritsu est disponible. Puissance des rayons X : 100 W, largeur de détection max. : 240 mm, hauteur de détection max. : 120 mm, vitesse de détection de 2 kg à 5 kg : 10 m-60 m/min, vitesse de détection jusqu'à 2 kg : 60 m-90 m/min, vitesse de détection de 5 kg à 10 kg : 10 m-40 m/min, matériau du boîtier : acier inoxydable, poids de la machine : environ 255 kg, heures de fonctionnement : moins de 50 h. La machine ne présente aucune usure au niveau du tapis roulant ou des rideaux de protection contre les radiations. Documentation disponible. Une inspection sur place est possible. Godpfsvzr Ausx Ac Asuk

État: usagé, PANalytical X’Pert PRO MPD Diffractomètre à rayons X (XRD) Extrait du rapport de service : Appareil : PANalytical X’Pert PRO MPD Date d’intervention : 07/07/2021 Travaux réalisés : - Remise en place et remise en service du système - Raccordement des alimentations externes - Phase de préchauffage - Réglage complet du goniomètre et d’autres composants - Maintenance, incluant le remplacement des pièces défectueuses Pièces de rechange utilisées : L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERIE NI-CD Ventilateur pour unité X-CELERATOR Filtre à eau Moteur PW3050 ("L’appareil n’a pas été testé dans notre établissement") Le X’Pert PRO MPD est un diffractomètre à rayons X (XRD) très polyvalent et performant pour la caractérisation structurelle des matériaux cristallins. Idéal tant pour la recherche fondamentale que pour les applications de routine en industrie et à l’université. Grâce à sa conception modulaire, sa détection rapide, son contrôle de la température et de l’atmosphère, il convient aussi bien aux analyses de routine qu’aux expériences complexes in situ. Caractéristiques principales : Géométries de mesure variées possibles : - Réflexion en mode Bragg-Brentano (θ–2θ) - Géométrie en transmission pour poudres en capillaires - En option, SAXS (diffusion des rayons X aux petits angles) pour nanostructures Source de rayonnement et détecteurs : - Souvent anode cuivre (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) - Détecteur X’Celerator (1D, très rapide) pour acquisition de données parallèles Gujdpfxowycatj Ac Aok Système modulaire avec technologie PreFIX : - Changement rapide des optiques et plateaux échantillons sans recalibrage Mesures in situ à haute température : - Analyses possibles jusqu’à env. 1200°C Atmosphère contrôlée : air, azote, oxygène (limitation en mode réducteur) Applications typiques : - Analyse de phases et analyse quantitative par la méthode de Rietveld - Détermination de la taille des cristallites, microdéformations, contraintes internes - Études in situ des transitions de phase, oxydation, cristallisation, etc. - Mesures SAXS pour l’analyse de nanoparticules, structures poreuses - Large spectre d’échantillons : poudres, couches minces, céramiques, produits pharmaceutiques, catalyseurs, etc. Données techniques (exemple) : Propriété et spécification Plage angulaire (2θ) : env. 0,5° à 150° Pas : jusqu’à 0,002° ou plus fin Goniomètre : vertical, 0–0, rayon env. 240 mm Température : température ambiante jusqu’à environ 1200°C Atmosphère : air, N₂, O₂ (limité en mode réducteur) Détecteurs : X’Celerator (1D), compteur proportionnel Répartition & domaines d’utilisation : Le X’Pert PRO MPD est utilisé dans le monde entier, par ex. : - Universités (ETH Zurich, TU Dresde, Université de Vienne) - Instituts de recherche (p. ex. instituts Max-Planck, ICN2, IS2M) - Industrie (développement de matériaux, pharmacie, chimie…) État : occasion / used Contenu de livraison : (voir photo) (Toute modification ou erreur dans les données techniques reste réservée !) Pour toute question additionnelle, nous sommes à votre disposition par téléphone.

État: bon (utilisé), Helmut Fischer Fischerscope mesure de l'épaisseur de couche par fluorescence X XDL-XYmZ Gsdpfxew Hbkdo Ac Asuk